近紅外條紋相機 C11293-02
近紅外條紋相機C11293-02在近紅外區域提供比以前更高的靈敏度。 C11293采用帶有半導體光電陰極（InP / InGaAs）的Hamamatsu條紋管，
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IPHEMOS-DD倒置光發射顯微鏡 C1...
iPHEMOS-DD倒置微光顯微鏡是一款半導體失效分析系統，通過檢測半導體裝置缺陷引起的微弱的光發射和熱發射來準確定位半導體器件的失效位置。利用其獨特的倒置型設
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Thermal-F1 熱發射顯微鏡 C14...
Thermal-F1”是熱發射顯微鏡的第二代產品。顯微鏡光學系統可以實現軟件自動控制，在同類產品中擁有較佳靈敏度，高幀率鎖定熱成像（Thermal-lock i
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IPHEMOS-MP倒置光發射顯微鏡 C1...
iPHEMOS-MP倒置微光顯微鏡是一款半導體失效分析系統，通過檢測半導體裝置缺陷引起的微弱的光發射和熱發射來準確定位半導體器件的失效位置。利用其獨特的倒置型設
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PHEMOS-1000 微光顯微鏡 C11...
PHEMOS-1000是一款高分辨率的微光顯微鏡，通過偵測半導體缺陷引起的微弱的光發射和熱發射來準確定位半導體器件的失效位置。設備既可以與通用型探針臺組合使用，
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分子取向特征測量系統 C14234-11
為了開發高效OLED器件，光提取效率的提高被認為是重要的參數，研究人員已經意識到控制和評估OLED器件的分子取向的重要性。 C14234-11具有多通道分析儀P
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條紋相機的納秒級熒光時間分辨系統 納秒級系統
時間分辨吸收光譜分析系統是在極短的時間內進行瞬態吸收光譜測量的裝置。該系統使得對溶液、固體、膜等環境中光反應的反應中間體的形成和衰變過程進行分析成為可能。通過利
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條紋相機的皮秒級熒光時間分辨系統 皮秒級系統
時間分辨吸收光譜分析系統是在極短的時間內進行瞬態吸收光譜測量的裝置。該系統使得對溶液、固體、膜等環境中光反應的反應中間體的形成和衰變過程進行分析成為可能。通過利
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緊湊型近紅外光致發光壽命測量儀 C1213...
用于測量光伏材料的光致發光（PL）壽命 緊湊型近紅外光致發光壽命測量儀C12132系列是專門為測量近紅外波段的光致發光譜（PL Spectrum）和光致發光壽命
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緊湊型近紅外光致發光壽命測量儀 C1213...
用于測量光伏材料的光致發光（PL）壽命緊湊型近紅外光致發光壽命測量儀C12132系列是專門為測量近紅外波段的光致發光譜（PL Spectrum）和光致發光壽命（
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用于測量光伏材料的光致發光（PL）壽命 緊湊型近紅外光致發光壽命測量儀C12132系列是專門為測量近紅外波段的光致發光譜（PL Spectrum）和光致發光壽命
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