Thermal-F1 熱發射顯微鏡 C14229-01

“Thermal-F1”是熱發射顯微鏡的第二代產品。顯微鏡光學系統可以實現軟件自動控制，在同類產品中擁有較佳靈敏度，高幀率鎖定熱成像（Thermal-lock in）， 測試領域能夠廣泛地覆蓋從芯片級到板級器件的客戶需求。

詳細參數:

產品特性

高靈敏度

定制設計的低噪聲InSb像機具有熱鎖定功能（Thermal lock-in），可實現世界的靈敏度 
相機使用斯特林冷卻方式制冷，偵測范圍為3.7μm至5.2μm，可與放大器無縫集成，以降低噪音并精確定位熱輻射。
大視野 

設備軟件包含拼接功能，光學系統能夠自動運動實現拼接。即便客戶樣品較大仍無懼挑戰。
靈活便捷的設計  

靈活的樣品擺放平臺設備精致小巧，能夠完全滿足客戶不同大小尺寸的樣品點針和加電。

產品應用:

● 金屬短路
● 阻值異常
● 電介質漏電
● 整個器件上的溫度高低值的分布探測